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Terms for subject Microelectronics containing inspection | all forms | exact matches only
EnglishGerman
automatic inspection of mask defectsautomatische Defektkontrolle
defect inspection equipmentDefektkontrollgerät
defect inspection taskDefektkontrollaufgabe
dimensional inspection in a microdensitometer modeKontrolle der Abmessungen nach einem Mikrodensitometerverfahren
inspection auditRevision des Kontrollverfahrens
inspection auditÜberprüfung des Kontrollverfahrens
inspection by variablesVariablenstichprobe
inspection dataKontrolldaten
inspection equipmentKontrollgerät
inspection errorKontrollfehler
inspection for visual defectsKontrolle auf visuelle Defekte
inspection of photomask defectsKontrolle von Maskendefekten
inspection resultKontrollergebnis
inspection sampling planKontrollstichprobenplan
inspection speedKontrollgeschwindigkeit
inspection techniqueKontrollverfahren
inspection timePrüfzeit
inspection timeKontrollzeit
mask inspection equipmentDefektkontrollgerät
mask inspection equipmentMaskenprüfgerät
mask inspection stationDefektkontrollstation
mask inspection systemDefektkontrollgerät
mask inspection systemMaskenprüfgerät
mask inspection techniqueMaskenkontrollverfahren
photomask inspection machineDefektkontrollgerät
photomask inspection systemDefektkontrollgerät
photomask inspection technologyMaskenkontrolltechnik
reticle inspection equipmentRetikelprüfgerät
sampling inspection planStichprobenprüfplan
wafer inspection and classification systemWaferdefektkontroll- und -klassifizierungsanlage
wafer inspection microscopeWaferkontrollmikroskop
wafer inspection stationWaferkontrollplatz

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