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Terms for subject Microelectronics containing zu | all forms | exact matches only
GermanEnglish
Abstand von Maske zu Substratmask-sample gap
Abstand von Wafer zu Röntgenquelledistance from wafer to X-ray source
als Eingang zu einem A-D-Wandler dienenserve as the input to an A-D converter
Anschlußleitungslänge von Chip zu Chipchip-to-chip lead run length
Auflösungsverhältnis von belichtetem zu unbelichtetem Positivresistdissolution ratio of exposed to unexposed positive photoresist
Ausrichtung der Zwischenträger zu den Bondhügeln der Chipsalignment of the tape leads to the chip bumps
BCD-zu-7-Segment-Dekoderbinary-coded decimal-to-seven-segment decoder
bis zu acht Chips in einem Baustein von 1 Quadratzoll kapselnpackage up to eight chips within a 1 in. square module
bis zu 80 Befehle verarbeitenhandle up to 80 instructions (abarbeiten)
bis zu zehn Kassetten mit Substraten aufnehmenstore up to ten cassettes with substrates
bis zu zehn unbelichtete rechteckige Flächen innerhalb der Matrix für Teststrukturen freilassenleave up to ten unexposed rectangular areas within the array for non-primary patterns
Blasendurchmesser bis zu 1 μmbubble diameter down to 1 μm
das nächste zu schreibende Feld anfahrenmove to the next field to be written
Datenverdichtung bis zu 15:1data compression as large as 15:1
den Strahl sequentiell zu den zu belichtenden Elementen der Chipstruktur führendirect the beam sequentially to the elements of the chip pattern to be exposed
den Wert bis zu seiner Aktualisierung haltenhold the value until it is updated (im Speicherflip flop)
die Daten zu einer brauchbaren Form reduzierenreduce data to a useful form (verdichten)
die Diffusionen zu den VMOS- und n-MOS-Bauelementen selbstjustierenself-align the diffusions to the V-groove and MOS devices
die Gleichung vereinfachen zusimplify the equation to
die Strukturen bis zu einer Genauigkeit von etwa 0,2 Mikrometer positionierenplace geometries to an accuracy in the order of 0.2 micrometres
die Strukturen direkt auf die zu bearbeitenden Wafer schreibenwrite the patterns directly onto the wafers to be processed
die zu schreibende Struktur zu vorausgehenden justierenorient the pattern to be written with previous ones
die zwei Bytes zu einem 16-Bit-Wort zusammensetzenassemble the two bytes into a 16-bit word
die Zwischenträgerbrücken zu den Bondhügeln auf dem Chip ausrichtenalign the leads with the bumps on the die
dieselbe Gruppe von Speicherzellen zu verschiedenen Zeiten belegenoccupy the same group of storage locations at different times
Durchgangsgatter vom Signalspeicher zu den Bitleitungenpass gate from the latch to the bit lines
durchschalten zugate to
eine Struktur zu darunterliegenden justierenalign a pattern with underlying ones
eine weitaus kleinere Strahlsonde als das zu schreibende Strukturelement verwendenuse a beam spot much smaller than the feature to be written
Eins-zu-Eins-Entsprechungone-to-one correspondence
Eins-zu-Eins-Zuordnungone-to-one correspondence
Eins-zu-Null-Verhältnisone-to-zero ratio
Feldgrößen bis zu 6 mm x 6 mm belichtenprint field sizes up to 6 mm x 6 mm
Flächenverhältnis von Chip zu Leiterplattearea ratio of chip to PWB
Flächenverhältnis von Gehäuse zu Montageplattepackage-to-board area ratio
Fortschritt von der manuellen Maskenherstellungsanlage zu Rechnernprogression from the manual photomask machine to computers
genau passen zudovetail well with
Gesamtjustierfehler von Schicht zu Schichtoverall alignment error from layer to layer
Gleichmäßigkeit von Wafer zu Waferwafer-to-wafer uniformity
gleichzeitigen Zugang zu gemeinsamen Betriebsmitteln habenshare access to common system resources
jedes Element einzeln zu dem entsprechenden Element in der vorher belichteten Struktur justierenalign each element individually to its corresponding element in the previously printed matrix
Justage der Zwischenträger zu den Bondhügeln der Chipsalignment of the tape leads to the chip bumps
Justierfehler von Schicht zu Schichtalignment error from layer to layer
Justierung von Ebene zu Ebeneinterlevel alignment
Justierung von Maske zu Wafermask-to-wafer registration
Justierung von Substrat zu Maskesubstrate-to-mask alignment
Justierung von Wafer zu Retikelwafer-to-master reticle alignment
kleinste Abmessung bis zu 700 Äminimum dimension down to 700 A
Kontakt zu tieferliegenden Diffusionszonen herstellencontact underlying diffused regions
Kontrolle von Maske zu Maskeinter-mask check (der Schaltkreisstrukturen)
Kontrollgenauigkeit bis zu einigen Hundertsteln eines Mikrometersmonitoring accuracy down to several hundredths of a micron
kundenspezifisch zu vollständigen Chips mit hohem Integrationsgrad herstellencustomize into completed LSI chips
leicht zu warteneasy-to-maintain
leicht zu wartendeasy-to-maintain
maßstäblich verkleinern bis zuscale down to
mit dem Elektronenstrahl die zu prüfende Oberfläche abrasternscan the electron spot across the surface under test
nachträglich ausbauen zufield-retrofit to
nicht selbständig rückgängig zu machender Maschinenstoppdrop-dead halt
Operationen bis zu 32 Stellen ausführencarry out operations to 32 places
Parallelverschiebungskorrektur von Chip zu Chipdie-by-die translation correction
Pin-zu-Pin-Kapazitätpin-to-pin capacitance
Rechtecke unterschiedlicher Größe bis zu 5 μm Kantenlängerectangles of varying size up to 5 μm square
Rechtecke zu einer komplexen Struktur zusammensetzencompose rectangles into a complex pattern
rechtwinklig verlaufen zurun at right angles to
Rechtwinkligkeit von × zu ysquareness of × to y
reproduzierbare Strukturen von Wafer zu Wafer erhaltenobtain reproducible geometries from wafer to wafer
Reproduzierbarkeit von Gerät zu Gerätrepeatability from machine-to-machine
Reproduzierbarkeit von Gerät zu Gerät in verschiedenen Laboratorieninterlaboratory reproducibility
Reproduzierbarkeit von Serie zu Serierun to run repeatability
Rückkehr zu Nullreturn to zero
Schwankungen der Bauelementparameter von Wafer zu Waferwafer-to-wafer variations of device parameters
Schwankungen von Chip zu Chipinterchip variations
selbstjustierend zuself-registering to
senkrecht zu den Koordinatenachsensquare with the x-y axes
sich analog verhalten zubehave analogously to
sich im freien Zustand bis zu 15 μm durchbiegenbow up to 15 μm in the free state
sich um bis zu 10 % von der Mitte zum Rand des Substrats ändernvary by as much as 10 % from the centre to the edge of the substrate
sich von Zeile zu Zeile serpentinenartig bewegenmove from row to row in a serpentine pattern
sich zu produktionsreifen Schaltungen entwickelnevolve into production circuits
Struktur mit Elementgrößen bis zu 0,5 Mikrometerpattern with feature sizes to 0.5 micron
Strukturen mit Elementbreiten bis zu 0,2 μm scharf abbildendefine patterns with geometries as small as 0.2 micrometre
Teilfelder zu einem großen Chip zusammenfügenstitch together subfields to a large chip
Testimpulse leiten zuroute test stimuli to
Umschwung von Platinen zu Mikroschaltungenshift from boards to microcircuits
Verdrahtung fvon Chip zu Chipchip-to-chip wiring
Verhältnis von Chip zu Montageflächechip-to-board area ratio (auf der Leiterplatte)
Verhältnis von Durchmesser zu Dickediameter-to-thickness ratio
Verhältnis von Kanallänge zu Kanalbreitechannel length-to-width ratio
Verhältnis von Linienbreite zu Abstandsbreiteline-to-space ratio
Verhältnis von Strommaximum zu Stromminimumpeak-to-valley current ratio
Verhältnis von Tiefe zu Breitedepth-to-width ratio (von geätzten Kanälen)
Verkleinerung der Kanallängen bis zu 2 μmscaling of channel lengths down to 2 μm
Verzerrung von Kreisen zu Ovalstrukturendistortion of circles to oval patterns
wieder zu einem einzigen Wort zusammensetzenre-assemble into a single word
zu beschreibende Flächearea to be written
zu einem elliptischen Querschnitt verzerrendistort to an elliptical cross section (Elektronenstrahllithografie)
zu erreichender Werttarget value
zu prüfendes Bauelementdevice under test
zu sich selbst relative Adresseself-relative address
zu testende Einheitunit-distance under test
zu viel Leiterplattenfläche beanspruchenoccupy too much circuit board area (einnehmen)
zu übertragendes Wortword to be transmitted
zuführen zuroute to
Zugang zu allen Anschlüssen über die Prüfkontakteaccess to all the pins via the probing pads
zugreifen zuaccess (Speicherbereichen)
Zugriff haben zuaccess (Daten aus einem Speicher oder peripheren Gerät erhalten)
Zugriff zu den gespeicherten Informationen erlangengain access to the stored information
Zugriff zu kritischen Betriebsmitteln synchronisierensynchronize access to critical resources
zurückführen zufeed back to
Zusammenfassung zu Sätzenrecording
Überdeckung von Ebene zu Ebeneregistration from level to level
Überdeckungsgenauigkeit von Ebene zu Ebeneinterlevel registration
Überdeckungsgenauigkeit von Maske zu Maskemask-to-mask registration
Überdeckungsvergleich von Anlage zu Anlagemachine-to-machine overlay comparison
Überdekkung der Masken von Ebene zu Ebenelevel-to-level registration of masks
Übereinstimmung von Gerät zu Gerätmachine-to-machine integrity
Übergang von Labormodellen zu Prototypentransition from laboratory models to prototypes
Übergang von Silizium zu Galliumarsenidswitch from silicon to GaAs