探子 – phrases

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X 射线电子探针分析	X-ray electron probe analysis
微电子束探示器数据	electron microbeam probe data
电子微探针 X 射线分析仪	electron probe X-ray analyzer
电子微探针分析	electron microprobe analysis (【技】用电子束轰击试样表面，使其中的组成元素产生特征 X 射线，然后分析光谱的波长和强度，从而获得固体试样中各微区内的元素组成、含量及分布情况。主要设备为电子探针仪，由电子光学系统、 X 射线光谱仪或能谱仪、记录、显示、数据处理和光学观察系统组成。缺点是仅限于固体试样的元素分析，对轻元素的分析精度较差。)
电子探伤仪	electron defectoscope
电子探针	electron probe
电子探针分析	electron probe analysis
电子探针分析	electron microbeam analysis
电子探针X射线分析器	electron probe X-ray analyzer
电子探针微区分析显微分析器	electronic probe microanalysis microanalyzer
电子探针显微分析	electroprobe microanalysis
电子探针显微分析法	electron probe microanalysis
电子探针显微分析仪	electroprobe microanalyser
电子探针显微分析仪	electron probe microanalyzer
电子探针显微分析结果	electron probe microanalysis result
电子探针研究	electron microprobe study
电子显微探针	electron microprobe
电子显微探针X射线分析仪	electron microprobe X-ray analyzer
电子显微探针数据	electron microbeam probe data
电子束显微探头	electron-beam microprobe
电子束显微探测器	electron-beam microprobe
离子微探针分析	ion microprobe analysis
离子微探针质量分析	ion microprobe mass analysis
离子探针	ion probe (【技】用聚焦离子束射击试样发生反映试样特征的离子束，并由质谱仪检测的分析仪器。它具有高灵敏、全分析的特点，用于测定物质表面元素的三维空间分布，能做深度分析、痕量分析、结构分析等。)
离子探针微量分析器	ion probe micro-analyzer
离子探针质谱仪	ion probe mass spectrometer
离子束探针测头	ion-beam probe
离子束探针测头	ion probe
等离子探测器	plasma probe
荧光磁性粒子探伤法	fluorescent magnetic particle method

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