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Terms for subject Microelectronics containing for | all forms | exact matches only
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account forbilden
adapter for p.c. boardsFlachbaugruppenadapter
add another mask step for buried contactseinen weiteren Maskierungsschritt für vergrabene Kontakte erfordern
additional surface area for ground interconnectionszusätzliche Fläche für Masseverbindungen
adjust automatically X, Y, and Ф to targets on the wafer for each fieldX, Y und Ф in bezug auf Wafermarken für jedes Einzelfeld automatisch einstellen
adjust the entire image field for actual focal planedas gesamte Bildfeld für die tatsächliche Brennebene einstellen
airtrack for wafer transportpneumatischer Lufttransportweg für Wafer
American Standard Code for Information InterchangeISO-7 Bit-Kode
American Standard Code for Information InterchangeASCII-Kode
assembly system for integrated circuitsMontagesystem für integrierte Schaltungen
automatic request for repeatautomatische Wiederholungsanforderung
bare the surface beneath for further processingdie darunterliegende Fläche zur weiteren Bearbeitung freilegen
basic circuit for a dual-slope converterGrundschaltung für einen Zweirampenumsetzer
beam tape carrier technology for automated bonding of semiconductor chipsZwischenträgertechnik für automatisches Bonden von Halbleiterchips
bonding head for numerical control positioning of large substratesBondkopf für numerisch gesteuerte Positionierung großer Substrate
bus-compatible latch for storing databuskompatibler Datenspeicher
call for dataDaten anfordern
capture probability for electrons and holesEinfangwahrscheinlichkeit für Elektronen und Löcher
capture rate for holesEinfangrate für Löcher
carrier frame for 24 leadsFilmbandträgerrahmen für 24 Anschlüsse
check for assembly errorsauf Montagefehler prüfen
check the data for completeness and correctnessdie Daten auf Vollständigkeit und Richtigkeit prüfen
circuit structure for a fan-in of 1 and a fan-out of 3Schaltkreisstruktur für einen Eingangslastfaktor 1 und einen Ausgangslastfaktor 3
close the switch for logic oneden Schalter für logische Eins schließen
comma for easy readingKomma zur leichteren Ablesung (zwischen Tausenderstellen)
compensate for errors in stage positionFehler der Tischposition kompensieren
compensate for errors in stage positionFehler in der Tischpositionierung kompensieren
compensate for wafer bowdie Waferdurchbiegung kompensieren
computer control of electron beams for maskless fabricationComputersteuerung von Elektronenstrahlen für maskenlose Strukturherstellung
configured forausgelegt für
contain the complete pattern for all dice at the actual size of the final featuresdie vollständige Struktur für alle Chips in natürlicher Größe der endgültigen Strukturelemente enthalten (1 ×)
cost-effective-performance tradeoffs for device fabricationKosten-Leistungs-Kompromisse für die Bauelementherstellung
custom-built-fitted for a variety of applicationsfür verschiedene Anwendungszwecke entwickelt
customer convenience/foranwenderfreundlich
customize for specific tasksfür spezifische Aufgaben nach Kundenwünschen modifizieren
customize for specific tasksauf kundenspezifische Aufgaben zuschneiden
defect limit for device manufactureDefektgrenze für die Bauelementherstellung
demagnify the electron beam to a usable size for microfabricationden Elektronenstrahl auf eine nutzbare Größe für die Mikrostrukturherstellung verkleinern
departure point for restartingWiederaufnahmepunkt
design information for mask manufactureEntwurfsdaten für Maskenfertigung
develop for a fixed timeeine bestimmte Zeit lang entwickeln
drive for more on-chip functional capabilitiesStreben nach mehr Funktionsmöglichkeiten auf einem Chip
drive pattern for the output portSteuermuster für den Ausgangskanal
electron beam machine for direct wafer processingElektronenstrahlanlage für direkte Waferbelichtung
electron beam system for mask makingElektronenstrahlmaskenschreiber
electron beam system for mask makingElektronenstrahlanlage für Maskenschreiben
electron-beam exposure for patterningElektronenstrahlbelichtung zur Strukturierung
electrooptical sensing of the wafer edges for prealignmentelektrooptisches Abtasten der Waferkanten zur Vorjustierung
extend the limits of performance for optical projection lithographydie Leistungsgrenzen für die optische Projektionslithografie ausdehnen
facility for selectively masking-off the I-O devicesMöglichkeit für die selektive Ignorierung der Eingabe-Ausgabe-Geräte
facility for selectively masking-off the I-O devicesEinrichtung für die selektive Ignorierung der Eingabe-Ausgabe-Geräte
feed the program via an I-O port to a computer for storage in magnetic tapedas Programm über einen Eingabe-Ausgabe-Kanal in einen Computer zur Speicherung auf Magnetband eingeben
fine alignment system for consistently accurate alignmentFeinjustiersystem für gleichbleibend genaue Justierung
flag as prime candidates for swapping back to mass storageals erste Anwärter für die Auslagerung in den Großspeicher kennzeichnen
flexible disk drive for mass storageDiskettenspeicher für Massenspeicherung
floor plan arrangement for an ICAnordnung für einen integrierten Schaltkreis
floor plan arrangement for an ICLageplan für einen integrierten Schaltkreis
free the host for other processing tasksden Verarbeitungsrechner für andere Aufgaben befreien
free the load chamber for the next cassettedie Ladekammer für die nächste Kassette frei machen
fully functional breadboard for each custom circuitvoll funktionsfähiger Versuchsaufbau für jeden kundenspezifischen Schaltkreis
fully pin-for-pin compatiblevollkommen pinkompatibel
gate material for MOS transistorsGatematerial für MOS-Transistoren
general-purpose computer for data reductionUniversalrechner zur Datenauswertung
hardbaked at 135 °C for 15 minutes bei135 °C 15 Minuten lang nachgehärtet
hermetic package for special military applicationshermetisch dichtes Gehäuse für spezielle Militäranwendungen
inspect an X-ray mask for defectseine Röntgenmaske auf Fehler kontrollieren
inspect the entire reticle for foreign particlesdas gesamte Retikel auf Verunreinigungen kontrollieren
inspection for visual defectsKontrolle auf visuelle Defekte
interfacing with real-world data for measurement and controlVerbindung mit Daten der Außenwelt für Messen und Steuern
interlocked for safetysicherheitsverriegelt
interrogation time for each wordAbfragezeit für jedes Wort
ion projection system for production of ICsIonenprojektionsanlage zur Herstellung von integrierten Schaltkreisen
joystick for X- and Y-axis alignmentHebel für X-Y-Justierung
laser-annealed-based microprojector for visual checking of ICsmit Laser arbeitender Mikroprojektor für die Sichtkontrolle integrierter Schaltungen
latch data for subsequent readoutDaten für späteres Auslesen speichern
latitude for process variationsBreite für Bearbeitungsschwankungen
latitude for process variationsSpielraum für Bearbeitungsschwankungen
leave up to ten unexposed rectangular areas within the array for non-primary patternsbis zu zehn unbelichtete rechteckige Flächen innerhalb der Matrix für Teststrukturen freilassen
limiting characteristic for device operationGrenzleistungsgröße für den Bauelementbetrieb
lithographic equipment for mask makinglithografische Anlage für Maskenherstellung
loading system for wafersLadesystem für Wafer
lock the output bits for data transferdie Ausgangsbits für Datenübertragung sperren
log for later analysisfür die spätere Analyse protokollieren
lower limit for defect detectionuntere Toleranzgrenze für Defektnachweis
margin for errorFehlerspielraum
margin for trade-offSpielraum mfür Kompromiß
mask the wafer for etchingden Wafer für den Ätzprozeß maskieren
masking material for succeeding operationsMaskierungsmaterial für Folgeprozesse
measurement technology for the semiconductor industryMeßtechnik für die Halbleiterindustrie
meet the design rules for a particular fabrication facilityden Entwurfsregeln für eine bestimmte Fertigungseinrichtung entsprechen
micromeasurement system for submicron geometriesMikromeßsystem für Strukturen im Submikrometerbereich
minimize runout error for warped wafersden Verzerrungsfehler bei gewölbten Wafern verringern
misalignment for the dieJustierfehler für das Bildfeld
monitor pattem for misalignmentKontrollstruktur für Fehljustierung
open the switch for logic 0den Schalter für logische Null öffnen
optimize for different applicationsfür verschiedene Anwendungen Aufgaben optimieren
output selected data to the operator for visual inspectionausgewählte Daten für den Bediener zur Sichtkontrolle ausgeben
pack data for storageDaten für die Speicherung verdichten
package standard for device with 0.05-in. centresGehäusestandard für Bauelemente mit 0,05-Zoll-Anschlußraster
panel for displayAnzeigefeld
partition the data into pages for ease of accessdie Daten in Seiten einteilen zur Erleichterung des Zugriffs
perform all the functions for digital controlalle Funktionen für digitale Steuerung ausführen
positive working resist for deep UVPositivresist für extrem kurzwelliges UV-Licht
predesignate for a particular mask level/ tofür eine bestimmte Maskenebene vorbestimmen
preparation of data for subsequent outputAufbereitung der Daten für spätere Ausgabe
primary input for all registersPrimäreingabe für alle Register
printer for replication of photomasksSchablonenkopiergerät
probing for shortsPrüfung auf Kurzschlüsse
project system for microcircuitsProjektionsanlage für Mikroschaltungen
provide a more reliable signal for registrationein zuverlässigeres Signal für die Justierung liefern
provide forbewirken
readiness for data transferBereitschaft für Datenübertragung
ready faster memories for microcomputer system designsschnellere Speicher für Mikrorechneranlagen bereitstellen
ready for assemblymontagebereit
ready for inquiryabfragebereit
ready for transmissionübertragungsbereit
ready for volume productionmit Serienfertigungsreife
reclaim space for new dataSpeicherplatz für neue Daten wiedergewinnen
record all data on the diskette for later analysisalle Daten auf der Diskette für spätere Analyse registrieren
recover the contents for later useden Inhalt zur späteren Verwendung zurückgewinnen
reference surface for the back of the waferBezugsfläche für die Rückseite des Wafers
refocus the image for each chipdas Bild für jedes Chip neu fokussieren
release data files for use in another systemDateien zur Verwendung in einem anderen System freigeben
replay data for processingDaten zur Verarbeitung wiedergeben (lesen)
request for repetitionAnforderung für Wiederholung
requirements for the fabrication of more complex integrated circuitsAnforderungen für die Herstellung komplexerer integrierter Schaltkreise
save on magnetic cards for future useauf Magnetkarten für spätere Benutzung speichern
scale marker for 1μm Größenmarkierung für 1 μm
scan for additional tasksnach weiteren Aufgaben suchen
screen for particular failure patternsauf bestimmte Fehlerstrukturen hin überprüfen (sichten)
search for a new task in the task librarynach einer neuen Aufgabe in der Aufgabenbibliothek suchen
search for a single characternach einem einzelnen Zeichen suchen
semiautomatic machine for inner lead bondinghalbautomatische Anlage für Innenbonden
separate light sources for alignment and exposuregetrennte Lichtquellen für Justierung und Belichtung
set an upper limit foreine obere Grenze setzen für
set new standards for reliabilityneue Maßstäbe für die Zuverlässigkeit setzen
set the design rules for chip layout methodsdie Entwurfsregeln für Chipentwurfsmethoden festlegen
shut down for maintenanceAbschaltung wegen Wartungsarbeiten
specified limit for used photomasksfestgesetzte Toleranzgrenze für gebrauchte Fotomasken
spectral bandwidth for illuminationspektrale Bandbreite für Beleuchtung
stay stored on chip for a year without powerein Jahr lang auf dem Chip ohne Energie gespeichert bleiben
steering tape for an automated plotting tableSteuerband für einen automatischen Zeichentisch
step mechanically to a new site for another exposuremechanisch zur nächsten Belichtungsposition fahren (Wafertisch)
store raw data for later batch processingRohdaten zur späteren Schubverarbeitung speichern
substitute forsich austauschen gegen
substitute forsich einsetzen für
substitute the test chips at selected sites for integrated circuits on wafersdie integrierten Schaltkreise durch Testchips in ausgewählten Plätzen auf den Wafern ersetzen
substrate for high-resolution patterningTräger für hochaufgelöste Maskenstrukturierung
substrate technology for surface-mounted componentsSubstrattechnik für Oberflächenbestückung
suitability for production environmentsEignung für Einsatz unter Produktionsbedingungen
test circuit for performance measurementTestschaltkreis für Leistungsmessung
test for opens or shortsauf Stromkreisunterbrechungen oder Kurzschlüsse prüfen
test for the absence of errorauf Fehlerlosigkeit kontrollieren
test matrix for reproducibility studiesPrüfmatrix für Reproduzierbarkeitsuntersuchungen
testing for faultsPrüfung auf Fehler
through-focal hole for component mountingDurchkontaktloch für Bauelementmontage
transmission of the material for X-ray wavelengthsDurchlässigkeit des Materials für Röntgenwellenlängen
trapping site for electronsEinfangstelle für Elektronen
trapping site for electronsHaftstelle für Elektronen
turn-around for a mask set from an engineering design to a working deviceGesamtherstellungszeit für einen Maskensatz vom technischen Entwurf bis zum arbeitsfähigen Bauelement
turn-around for a mask set from an engineering design to a working deviceDurchlaufzeit für einen Maskensatz vom technischen Entwurf bis zum arbeitsfähigen Bauelement
turn-around time for new device developmentFertigstellungszeit für neue Geräteentwicklung
unavailable for external data transferfür externe Datenübertragung nicht zur Verfügung stehend
unpack data for processingDaten zur Verarbeitung entpacken
vehicle for communicationHilfsmittel für Datenübertragung
wait for the digital value to become availableauf die Verfügbarkeit des Digitalwerts warten
working device ready for volume productionarbeitsfähiges Bauelement mit Serienfertigungsreife
writing time for a waferSchreibzeit für einen Wafer