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Terms for subject Microelectronics containing TARGET | all forms | exact matches only
EnglishGerman
acquire targets rapidlyJustiermarken schnell erfassen
adjust automatically X, Y, and Ф to targets on the wafer for each fieldX, Y und Ф in bezug auf Wafermarken für jedes Einzelfeld automatisch einstellen
alignment targetJustiermarke (auf dem Wafer)
alignment target patternJustiermarkenstruktur
array of alignment targets on a waferJustiermarkenanordnung auf einem Wafer
auto align wafer targetWafermarke für automatische Justierung
bring alignment targets into coincidence with targets on the waferJustiermarken mit den Marken auf dem Wafer zur Deckung bringen
calibration targetEichmarke
electron scattering within the film-substrate targetElektronenstreuung im Schichtsubstrattarget
fixed targetfeste Marke
focus the square shape of the aperture on the targetdie quadratische Blende auf das Objekt scharf abbilden
form an image of the crossover on the targetein Bild des Crossover auf dem Objekt erzeugen
high-speed rotating targetmit hoher Geschwindigkeit rotierendes Target
image only a subrectangle on the targetnur ein Rechteck auf das Objekt abbilden
impinge on the wafer target at normal incidenceauf die Wafermarke senkrecht einfallen
incorporate alignment targets in each mask or reticleJustiermarken in jeder Maske oder Belichtungsschablone einfügen
locate the targetdie Marke auffinden
manual-align wafer targetWafermarke für manuelle Justierung
photomask with stepped-in alignment targetsFotoschablone mit einbelichteten Justiermarken
raised mesa targetErhebungsmarke
reference target on reticleBezugsmarke auf dem Retikel
resolution targetAuflösungstest
resolution targetTestobjekt
reticle alignment targetRetikeljustiermarke
reticle reference targetRetikelbezugsmarke
rotary targetDrehtarget
scan the beam over the targetdie Marke mit dem Strahl abtasten
sputtering targetZerstäubungskatode
stepped- in alignment targeteinbelichtete Justiermarke
strike a targetauf eine Zielelektrode treffen
target acquisition capability of the wafer-to-reticle alignment systemMarkenerfassungsmöglichkeit des Wafer-Retikel-Justiersystems
target areaAuftrefffläche
target areaTargetfläche
target atomQuellenatom
target computerZielcomputer
target patternJustiermarkenstruktur
target phaseZielphase
target planeTargetebene
target sourceQuelle (Röntgenlithografie)
target valuezu erreichender Wert
test targetTestobjekt (s.a. test reticle)
trench targetVertiefungsmarke
wafer alignment targetWaferjustiermarke
wafer reference targetWaferbezugsmarke

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