DictionaryForumContacts

   English
Terms for subject Makarov containing ion spectroscopy | all forms | in specified order only
EnglishRussian
Auger ion spectroscopyионная оже-спектроскопия
Doppler tuned spectroscopy of fast ionsдопплеровская перестраиваемая спектроскопия быстрых ионов
fast ion laser spectroscopyлазерная спектроскопия в быстром ионном пучке
fast-ion-beam laser spectroscopyлазерная спектроскопия быстрых ионных пучков
ion dip spectroscopyспектроскопия ионизационного провала
ion spectroscopyионная спектроскопия
ion-backscattering spectroscopyспектроскопия обратного рассеяния ионов
ion-dip spectroscopyспектроскопия ионного провала
ion-electron spectroscopyионно-электронная спектроскопия
ion-photon spectroscopyионно-фотонная спектроскопия
ion-recoil spectroscopyспектроскопия ионов отдачи
ion-scattering spectroscopyспектроскопия рассеяния ионов
negative ion photodetachment spectroscopyспектроскопия фотоотщепления отрицательных ионов
negative-ion photoelectron spectroscopyфотоэлектронная спектроскопия отрицательных ионов
resonant ion-dip infrared spectroscopyинфракрасная спектроскопия резонансного ионного провала
secondary ion mass spectroscopyмасс-спектроскопия вторичных ионов
secondary-ion mass spectroscopyвторичная ионная масс-спектроскопия (SIMS)
self-diffusion of water and fluorine ions in anion-exchange polymeric materials membranes and resin as determined by pulsed-field gradient nuclear magnetic resonance spectroscopyсамодиффузия воды и ионов фтора в анионообменных полимерных материалах мембраны и смолы по данным ЯМР-спектроскопии с импульсным градиентом поля
stimulated emission ion dip spectroscopyспектроскопия провала вынужденного ионного испускания
threshold photoelectrons coincidence spectroscopy of doubly-charged ionsспектроскопия совпадений пороговых фотоэлектронов и двухзарядных ионов
time-of-flight secondary-ion-mass spectroscopyвремя-пролётная масс-спектроскопия вторичных ионов (TOF-SIMS)
X-ray spectroscopy of ions produced at an electron beam ion trapрентгеновская спектроскопия ионов, полученных в ионных ловушках электронных пучков